Описание
SGW X-4B измеритель температуры плавления с микроскопом
Характеристики
Этот продукт используется для определения температуры плавления вещества. Он в основном используется для определения кристаллических органических соединений, таких как фармацевтические препараты, химикаты, текстиль, топливо и парфюмерия. Прибор Микроскопически наблюден и может быть измерен либо капиллярным методом, либо методом скользящего покрытия (метод горячего стола).
Технические характеристики
| Параметры/модель | SGW X-4B |
| Диапазон измерения температуры плавления | Комнатной температуре-320℃ |
| Точность повторяемости | <200℃: ±1℃; 200-320 ℃: ±2℃ |
| Наблюдения режим | Бинокулярный стереоскопический микроскоп |
| Оптическое увеличение: | 40 X-100 X непрерывный зум |
| Вес нетто: | 4,5 кг |
| Размеры: | 269mm * 160mm * 435mm |
Характеристики
- Бренд
- JVLAB
- Коэффициент увеличения
- 500X и Под
- Особенности
- Цифровой
- Основы
- Стереомикроскоп
- Номер модели
- SGW X-4B
- Материал
- Пластик
- Выдвижной тубус
- Бинокль
Сопутствующие товары
