Описание
Двойной боковой полировка одинарный кристалл кремния
Технические характеристики:
Один кристалл,Двойная боковая полировка, 3 дюймов
Материал:
Высокая чистота кремния Си один кристалл подложка. Н/п опционально.
Использует:
1. pvd/CVD покрытие подложка
2. используется в качестве XRD (x ray diffraction analysis), sem (сканирующий электронный микроскоп), AFM (микроскоп атомной силы), ftir инфракрасный, флюоресценционная спектроскопия и другие аналитические образцы
3. synchrotron излучатель Экспериментальный образец носителя
4. Подложка для молекулярного пучка
5. Процесс полупроводниковой литографии и т. д.








Характеристики
- Номер модели
- N/P optional
- Габаритные размеры
- 3 inch
- Стандартный
- GB
- Наличие стандарта
- Стандарт
- Материал
- Si












