Оптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станции
  • Оптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станции
  • Оптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станции
  • Оптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станции
  • Оптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станции
  • Оптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станции

Оптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станции

22 460 руб.
Цвет:
  • Оптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станции - Цвет: LPPS01A 1pcs
  • Оптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станции - Цвет: LPPS01A 1pair

Описание

Основные функции
· Место регулировки зонда делится на трехмерное регулируемое сиденье, рычаг зонда,
Магнитная Адсорбция пол состав
· Трехмерное регулируемое сиденье может осуществить регулировку направления XYZ
· Установка зонда: вертикальная, 45 °
· Магнитная адсорбционная база легко регулируется и фиксируется
· Подходит для тонкой работы с низкой рабочей частотой
Основная функция
Серия зондовых станций Leipes в основном используется в полупроводниковой промышленности, оптоэлектронной промышленности, интегральных схемах и упаковке, исследованиях и разработке прецизионных электрических измерений сложных, высокоскоростных устройств, для обеспечения качества и надежности, а также для снижения стоимости времени разработки и производственного процесса устройства. Применим к fabs, научно-исследовательским школам, университетам и т. д. для IGBT, FRD, тестирования напряжения и тока, тестирования солнечных элементов, тестирования диодных транзисторов, тестирования заднего электрода.
Оптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станцииОптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станцииОптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станцииОптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станцииОптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станцииОптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станцииОптическое ручное место регулировки зонда, IV чип обнаружения контакта зонда Кристалл полупроводниковый тест тонкой регулировки зонда станции

Характеристики

Тип
Запчасти для электроинструментов
Индивидуальное изготовление
Нет
Материал
Алюминиево-медный сплав
Применение
Коммерческое производство