SEM односторонний полировальный Тип экспериментальный высокой чистоты одновафельный Кремниевая пластина 2,3, 4 дюйма

Описание

Один с украшением в виде кристаллов,Двойная сторона, полировка, 2,3, 4 дюйма

Материал:

Кремний высокой чистоты Si Одиночная кристаллическая подложка. N/P опционально.

Область применения:

1. PVD/CVD покрытие подложки

2. Используется в качестве XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), AFM (атомный силовой микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентный спектроскопия и другие аналитические тестовые субстраты

3. synchrotron радиационный экспериментальный носитель образцов

4. Подложка для молекулярного пучка эпитаксиального выращивания

5. Процесс полупроводниковой литографии и так далее