ST тестовая площадка для микросхемы STM32L151/152/373/103 сжигание программы STM32F407/427 гнездо адаптера (от 5182 руб.)

Описание

ST тестовая площадка для микросхемы STM32L151/152/373/103 сжигание программы STM32F407/427 гнездо адаптера

Поддержка stm32-lqfp100 полной серией продукции

1: STM32 100PIN оригинальные импортные вкладыш для испытания модель YAMAICHI модель ic51-1004-809 расстояние 0,5 мм

2. Все булавки извлекаются. Функция и символ pin (плюс: кнопка сброса) помечены рядом с pin для облегчения отладочной работы и разработки

3: Поддержка JTAG, SWD отладки и burning test разработки

4: USART1 извлекается, который используется для экспериментов

5: часть RTC может выбрать для использования источника питания батареи или системы питания

6: Используйте перемычку, чтобы выбрать, использовать ли USB интерфейс, удобно для разработки USB программ

7: пройденное расстояние в PB0 pin соединен с синий светодиодный свет, что удобно для отладки программы

8: Встроенные два светодиода для индикации состояния тестирования

9: часть RTC может выбрать для использования питания аккумулятора или бортового источника питания

10: Используйте перемычку, чтобы выбрать, использовать ли USB интерфейс для удобного развития USB программ

11: двойной выключатель питания 5 V и 3 V

Интерфейс JTAG/SWD

Совместим с st-link/J-LINK/ULINK2/stx-rlink

STM32 QFP100 pin посылка: Тесты burn скачать

STM32 QFP100 посылка:

Серия STM32L1xxV, такая как: STM32L151VB, STM32L152VB

Серия STM32F1xxV, такая как: STM32F103VE, STM32F100VE

Серия STM32F2xxV, такая как STM32F207VC, STM32F215VC

Серия STM32F3xxV, такая как: STM32F303VC, STM32F373VB

STM32F4xxV серии, такие как STM32F407VG и STM32F415VG

Все контакты чипа извлекаются двойной штифт, и расстояние между штырьками составляет 2,54 мм

Высокая скорость внешней Кристалл колебания на доске

Низкоскоростной внешний кристаллический осциллятор 32,768 на плате

ST тестовая площадка для микросхемы STM32L151/152/373/103 сжигание программы STM32F407/427 гнездо адаптера